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美國(guó)安捷倫Agilent經(jīng)典的3款函數(shù)信號(hào)發(fā)生器
日期：2014-02-17瀏覽：2118次
美國(guó)安捷倫Agilent經(jīng)典的3款函數(shù)信號(hào)發(fā)生器
安捷倫Agilent33210A函數(shù)信號(hào)發(fā)生器
10 MHz正弦波和方波
脈沖，斜波，三角波，噪聲和直流波形
可選14-bit，50 MSa/s ，8 K 點(diǎn)任意波形
AM，F(xiàn)M，PWM調(diào)制類型
線性和對(duì)數(shù)掃描及突波工作模式
幅度范圍為10 mVpp至10 Vpp
圖形化顯示界面易于信號(hào)設(shè)置和驗(yàn)證
USB、GPIB和LAN 接口
*符合LXI C 類規(guī)范
安捷倫Agilent33220A函數(shù)信號(hào)發(fā)生器在33210A的基礎(chǔ)上增大了輸出頻率20 MHz 正弦波和方波，任意波形也增大到了64 K 點(diǎn)，加了PM, FSK調(diào)制類型。
而Agilent33250A函數(shù)信號(hào)發(fā)生器在33220A的基礎(chǔ)上又有所長(zhǎng)進(jìn)，分別是
80 MHz 正弦波和方波輸出
50 MHz脈沖波形，上升/下降時(shí)間可調(diào)
波形采樣率達(dá)到了200 MSa/s大大滿足了客戶使用要求。
上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)均有現(xiàn)貨，歡迎訂購(gòu)。
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
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- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
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- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
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